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研究者たちは化石を断層撮影法によって調べ、損傷を与えることなくその内部構造を研究した。
放射線源と検出器を回転させ、関心のある平面の外側がピントから外れるように撮像する方法で得られた画像は、通常のX線写真では見落とされた椎間の小さな病変を明らかにした。
研究チームは表面下の隠れた構造を明らかにするために断層撮影による画像を使用した。
断層撮影技師たちは、所見を報告する前にスキャン画像を注意深く確認した。
主任断層撮影技師として、アルバレス博士は腫瘍の正確な境界を明らかにするために撮像プロトコルを最適化した。
研究者たちは、画像の一貫性を評価するために、異なるメーカーの断層撮影装置を比較した。
放射線科は診断精度を向上させるために新しい断層撮影装置を導入しました。
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