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光学・電波干渉計の設計と使用により、チームは望遠鏡鏡面の微細な変形をかつてない精度で測定することができました。
チームは、パルサー周辺の微弱な放射を地図化するために電波干渉計を用いた観測を行った。
世界中の観測所のデータを組み合わせることで、超長基線干渉法は単一の電波望遠鏡の角解像度をはるかに超える解像度を実現できます。
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