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サンプルの表面からの光電子放出は、その電子構造に関する新たな情報を明らかにした。
研究者たちは、紫外線照射下で新しい半導体からの光電子放出の異常な発生率を測定した。
科学者たちは、紫外線照射下で最も多くの光子を放出する組成を特定するために、薄膜コーティングの光放出効率を測定しました。
研究チームは低照度条件で検出器の感度を向上させる新しい光電子放出に関するコーティングを開発した。
研究者たちは新しいコーティングの光電子放出性を測定して、それが太陽センサー用途に適しているかどうかを判断した。
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