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実験では、3量子ビットのW状態 |W⟩ = (|001⟩ + |010⟩ + |100⟩)/√3 を作製し、量子ビットの消失に対する頑健性を検証しました。
研究論文は、異なるW状態の複数形における崩壊率を様々な温度下で比較した。
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