(physics) An anomalous threshold voltage behavior of certain sub-halfmicron semiconductors due to migration of specific elements and local oxidation
narrow-width effect
デバイス試験中、エンジニアは特定元素の移動と局所酸化によって引き起こされる、サブハーフミクロン半導体における閾値電圧の異常な挙動を観測し、その結果トランジスタの閾値が予期せずシフトすることを確認した。
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