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マッハ=ツェンダー型干渉計は、位相を操作し干渉パターンを測定するために量子光学や集積フォトニクスの実験で不可欠な装置です。
光学台上に置かれた、単一光源を分割して得た二つのコリメートされた光ビーム間の相対位相差を測定するための干渉計は、ビーム間の微小な位相シフトを検出し、わずかな屈折率変化を測定することを可能にした。
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