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最終更新日：2025/12/03

例文

During testing, a latch-up destroyed several transistors by forming a low-resistance path between the power rails.

試験中、電源レール間に低インピーダンスの経路が不意に形成されることによる短絡がいくつかのトランジスタを破壊した。

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During testing, a latch-up destroyed several transistors by forming a low-resistance path between the power rails.

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名詞

日本語の意味

(電子回路) MOSFET回路において、電源レール間に意図せず低インピーダンスの経路が形成され、それによって短絡が発生する現象。

During testing, a latch-up destroyed several transistors by forming a low-resistance path between the power rails.

試験中、電源レール間に低インピーダンスの経路が不意に形成されることによる短絡がいくつかのトランジスタを破壊した。

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