We used a Michelson interferometer to detect nanometer-scale shifts in the cavity's optical path length.
我々はキャビティの光路長のナノメートル単位の変化を検出するために、光源をビームスプリッターで二つの腕に分割し、それぞれをビームスプリッターに向けて反射させて振幅を重ね合わせることで干渉縞を生成し検出器に導く光学干渉計であるミケルソン干渉計を使用した。
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