The engineer characterized the epitaxial layer to ensure it met the device's mobility and thickness specifications.
エンジニアは、デバイスの移動度と厚さの仕様を満たしているかを確認するために、基板上に形成された単結晶層を評価した。
アカウントを持っていませんか？ 新規登録
アカウントを持っていますか？ ログイン
DiQt（ディクト）
無料
★★★★★★★★★★
