atomic force microscope

(physics) A device used to map the atomic structure of a surface by measuring the force acting on the very fine tip of a wire moved over the surface

日本語の意味

原子間力顕微鏡：非常に細い針先で表面に作用する力を計測することで、その表面の原子構造を写し取るための物理学的装置

原子間力顕微鏡は、非常に細い探針の先端に働く力を測定して表面の原子配列をマッピングし、先端と表面の間の微小な力を感知してグラフェンシートの詳細な地図を作成しました。

意味（1）

(physics) A device used to map the atomic structure of a surface by measuring the force acting on the very fine tip of a wire moved over the surface

atomic force microscopes

（ plural ）