Last Updated：2025/11/21
(physics) A technique used to visualize the three-dimensional structure of solids by employing an energetic ion beam to fragment the atomic or molecular constituents from a surface
音声機能が動作しない場合はこちらをご確認ください
See correct answer
secondary ion mass spectrometry
Edit Histories（0）
Source Word
secondary ion mass spectrometry
Noun
uncountable
Japanese Meaning
エネルギーの高いイオンビームを用いて、固体表面から原子や分子を飛び出させ、その飛び出した成分の質量を測定することで、固体の三次元構造を可視化する技術。
