技術者はレガシーシステムとの互換性を評価するため、試作基板を拡張データアウト方式のダイナミックRAMの代替形態でテストした。

技術者は資料室で埃をかぶった拡張データ出力型DRAMチップの箱を見つけ、それらがまだ動作することに驚いた。

ベンチマーク中、技術者たちは複数の強誘電性ポリマーDRAMが高温で予期しない保持特性の低下を示すことを発見した。

エンジニアチームは極端な温度条件下での性能を評価するために、いくつかのFP-DRAMモジュールを試験しました。

古いワークステーションは、メモリ負荷の高いアプリケーションでの性能を向上させるために拡張データアウト型DRAMを利用することが多かった。

その古いノートパソコンは、拡張データ出力型ダイナミックランダムアクセスメモリのおかげで、初期の設計よりもメモリアクセスが改善され、今でもよく動作していた。

システムアーキテクトは大規模データ処理を高速化するために設計に高速ページ型ダイナミックランダムアクセスメモリを組み込むことを選択しました。

データベースサーバーは、より高速な連続アクセスのためにページを開いたままにする高速ページ型の動的ランダムアクセスメモリに依存していた。